1. komponenta

Vrsta nastave	Ukupno
Predavanja	15
Seminar	10

* Opterećenje je izraženo u školskim satima (1 školski sat = 45 minuta)

Izvori zračenja; klasični izvori rentgenskog zračenja, sinkrotron. Efekti prolaska rentgenskih zraka kroz čvrstu tvar; difrakcija, apsorpcija, fluorescencija, Comptonov efekt - primjena. Difrakcija neutrona, difrakcija elektrona. Usporedba s difrakcijom rentgenskih zraka. Rentgenski uređaji za strukturno istraživanje. Geometrija, konstrukcija i rukovanje klasičnim i modernim rentgenskim uređajima za strukturno istraživanje. Detekcija i registracija rentgenskih zraka. Filmske metode; tipovi kamera, metode rotirajućeg i oscilirajućeg kristalnog uzorka, indiciranje refleksa i mjerenje njihovih intenziteta. Brojila i detektori: poluvodički detektori, detektori imaging plate. Analiza, interpretacija i obradba eksperimentalnih podataka difrakcije rentgenskih zraka u jediničnom kristalu. Pouzdanost i točnost određivanja jedinične ćelije, gustoće, simetrije i strukture. Kristalizacija: tehnike i metode. Kriteriji za odabir uzoraka. Rad s nestabilnim tvarima. Metode usklađivanja difrakcijskih slika polikristalnih uzoraka pri određivanju kristalne strukture; metoda usklađivanja pojedinačnih difrakcijskih linija, metoda dekompozicije cijele difrakcijske slike, Rietveldova metoda. Strukturna analiza amorfnih tvari: raspršenje rentgenskih zraka u amorfnoj tvari, metoda EDXD, metoda EXAFS. Zaštita pri radu s rentgenskim uređajima. Dozimetrija.

1. OBVEZNA LITERATURA:
   C. Giacovazzo, H. L. Monaco, D. Viterbo, F. Scordari, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti: Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press Inc., New York, 1992.
   C. Hammond: The basic of crystallography and diffraction, Oxford University Press, New York, 2001.
   W. I. F. David, K. Shankland, L. B. McCusker, Ch. Baerlocher: Structure determination from powder diffraction dana, Oxford University Press , New York, 2002.
   R. A. Young (ur.): The Rietveld Method, IUCR Monographs on Crystallography 5, Oxford University Press, Oxford 1993.
   M. Thoms, H. Burzlaff, A. Kinne, J.Lange, H. Von Seggern, R. Spengler, A. Winnacker: An Improved X-Ray Image Plate Detector for Diffractometry, Proc. of the EPDIC IV, Trans. Tech. Publications, Aedermannsdorf 1996.
2. DOPUNSKA LITERATURA:
   revijalni članci i znanstvene monografije

Izborni kolegiji za smjer analitička kemija - Redovni Smjer - Analitička kemija
Izborni kolegiji za smjer anorganska i strukturna kemija - Redovni Smjer - Anorganska i strukturna kemija
Izborni kolegiji za smjer biokemija - Redovni Smjer - Biokemija
Izborni kolegiji za smjer fizikalna kemija - Redovni Smjer - Fizikalna kemija
Izborni kolegiji za smjer organska kemija - Redovni Smjer - Organska kemija

Izborni predmeti doktorski studij kemije - Redovni Smjer - Analitička kemija
Izborni predmeti doktorski studij kemije - Redovni Smjer - Anorganska i strukturna kemija
Izborni predmeti doktorski studij kemije - Redovni Smjer - Biokemija
Izborni predmeti doktorski studij kemije - Redovni Smjer - Fizikalna kemija
Izborni predmeti doktorski studij kemije - Redovni Smjer - Organska kemija