Kemijski odsjek...
 
Eksperimentalne...
 
Eksperimentalne metode u kristalnoj strukturnoj...
 
Šifra: 152794
ECTS: 5.0
Nositelji: prof. dr. sc. Biserka Prugovečki - Predavanja
Izvođači: Biserka Prugovečki - Seminar
Prijava ispita: Studomat
Opterećenje:

1. komponenta

Vrsta nastaveUkupno
Predavanja 15
Seminar 10
* Opterećenje je izraženo u školskim satima (1 školski sat = 45 minuta)
Opis predmeta:
Izvori zračenja; klasični izvori rentgenskog zračenja, sinkrotron. Efekti prolaska rentgenskih zraka kroz čvrstu tvar; difrakcija, apsorpcija, fluorescencija, Comptonov efekt - primjena. Difrakcija neutrona, difrakcija elektrona. Usporedba s difrakcijom rentgenskih zraka. Rentgenski uređaji za strukturno istraživanje. Geometrija, konstrukcija i rukovanje klasičnim i modernim rentgenskim uređajima za strukturno istraživanje. Detekcija i registracija rentgenskih zraka. Filmske metode; tipovi kamera, metode rotirajućeg i oscilirajućeg kristalnog uzorka, indiciranje refleksa i mjerenje njihovih intenziteta. Brojila i detektori: poluvodički detektori, detektori imaging plate. Analiza, interpretacija i obradba eksperimentalnih podataka difrakcije rentgenskih zraka u jediničnom kristalu. Pouzdanost i točnost određivanja jedinične ćelije, gustoće, simetrije i strukture. Kristalizacija: tehnike i metode. Kriteriji za odabir uzoraka. Rad s nestabilnim tvarima. Metode usklađivanja difrakcijskih slika polikristalnih uzoraka pri određivanju kristalne strukture; metoda usklađivanja pojedinačnih difrakcijskih linija, metoda dekompozicije cijele difrakcijske slike, Rietveldova metoda. Strukturna analiza amorfnih tvari: raspršenje rentgenskih zraka u amorfnoj tvari, metoda EDXD, metoda EXAFS. Zaštita pri radu s rentgenskim uređajima. Dozimetrija.
Literatura:
  1. OBVEZNA LITERATURA:
    C. Giacovazzo, H. L. Monaco, D. Viterbo, F. Scordari, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti: Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press Inc., New York, 1992.
    C. Hammond: The basic of crystallography and diffraction, Oxford University Press, New York, 2001.
    W. I. F. David, K. Shankland, L. B. McCusker, Ch. Baerlocher: Structure determination from powder diffraction dana, Oxford University Press , New York, 2002.
    R. A. Young (ur.): The Rietveld Method, IUCR Monographs on Crystallography 5, Oxford University Press, Oxford 1993.
    M. Thoms, H. Burzlaff, A. Kinne, J.Lange, H. Von Seggern, R. Spengler, A. Winnacker: An Improved X-Ray Image Plate Detector for Diffractometry, Proc. of the EPDIC IV, Trans. Tech. Publications, Aedermannsdorf 1996.
  2. DOPUNSKA LITERATURA:
    revijalni članci i znanstvene monografije
Termini konzultacija:
Obavijesti
 
Nema vijesti!
Repozitorij
 
Repozitorij je prazan
Anketa
 
Na ovoj stranici trenutno nije odabrana niti jedna anketa!

 

 

Sva prava pridržana. Kemijski odsjek Prirodoslovno-matematičkog fakulteta
Sveučilište u Zagrebu