|
Opterećenje:
|
1. komponenta
| Vrsta nastave | Ukupno |
| Predavanja |
30 |
| Seminar |
15 |
* Opterećenje je izraženo u školskim satima (1 školski sat = 45 minuta)
|
|
Opis predmeta:
|
NASTAVNI SADRŽAJ:
Izvori roentgenskih zraka, pojmovi o simetriji, kristalnoj rešetki, kristalizacijskim tehnikama, difrakciji i intenzitetu difrakcijskih maksimuma. Usporedba različitih eksperimentalnih metoda rješavanja struktura. Problem faza, uloga Fourierovih transformacija i operacije konvolucije u rješavanju kristalnih struktura, utočnjavanje struktura metodom najmanjih kvadrata, geometrijska analiza i predstavljanje riješenih kristalnih i molekulskih struktura.
ISHODI UČENJA:
1. Objasniti prednosti/nedostatke rentgenske strukturne analize za određene uzorke u usporedbi s drugim difrakcijskim metodama (neutronskom i elektronskom difrakcijom).
2. Opisati izvore i detektore rentgenskog zračenja, neutrona i elektrona.
3. Upotrijebiti osnovne pojmove o simetriji, kristalnoj rešetki, difrakciji i intenzitetu difrakcijskih maksimuma.
4. Opisati problem faza.
5. Sakupiti difrakcijske podatke, riješiti i utočniti kristalne strukture te grafički prikazati strukture korištenjem odgovarajućih računalnih programa
6. Pretraživati kristalografske baze podataka.
|
|
Literatura:
|
- 1. C. Giacovazzo et al.: Fundamentals of Crystallography, 2. izdanje, Oxford Univ. Press, Oxford 2002.
- 2. Jan Drenth: Principles of Protein Crystallography, 3. izdanje, Springer Science, 2007.
- 3. I. Vicković: Difrakcijske metode određivanja kristalnih struktura, interna skripta, 1996.
|
Pristupačnost
