NASTAVNI SADRŽAJ:
Svojstva čvrstog stanja. Metode karakterizacije tvari u čvrstom stanju i njihova primjena: elementna analiza, spektroskopske metode, termička analiza, difrakcijske medode, mikroskopske metode. Kriteriji za odabir odgovarajuće metode. Priprava realnih uzoraka za postupak analize. Kristalizacija i postupci priprave jediničnih kristala. Spektroskopske metode analize: IR spektroskopija, Ramanova spektroskopija, UV/VIS spektroskopija, rentgenska fluorescencija. Termička analiza: termogravimetrija, diferencijalna termička analiza, diferencijalna pretražna kalorimetrija. Difrakcija rentgenskog zračenja na jediničnom kristalu, određivnje struktura novih materijala. Difrakcija rentgenskog zračenja na polikristalnom uzorku: kvalitativna i kvantitativna fazna analiza, rentgensko raspršenje pod malim kutom. Karakterizacija tankih filmova rentgenskim metodama. Neutronska difrakcija. Mikroskopske metode: optička mikroskopija, transmisijska elektronska mikroskopija (TEM), pretražna elektronska mikroskopija (SEM). Seminar: primjena različitih instrumentnih metoda izučavanja tvari u čvrstom stanju u tipičnom okruženju (industrija, istraživačke institucije).
ISHODI UČENJA:
Nakon odslušanog kolegija studenti će:
1. prepoznati i objasniti sličnosti i razlike među različitim klasama spojeva u čvrstom stanju
2. objasniti interakciju zračenja s čvrstim tvarima
3. usvojiti teorijske osnove različitih analitičkih tehnika koje se koriste za karakterizaciju tvari u čvrstom stanju
4. biti u mogućnosti prema zahtjevima analitičkog problema odabrati odgovarajuću analitičku metodu
5. moći procijeniti prednosti i ograničenja različitih tehnika
6. smisleno analizirati i prikazati rezultate mjerenja
7. znati primijeniti različite instrumentne metode izučavanja tvari u čvrstom stanju u tipičnom okruženju (industrija, istraživačke ustanove)
|
Pristupačnost
